<http://id.insee.fr/codes/eap2021/produit/2670263000/noteGenerale/v1>

Subject	Predicate	Object
http://id.insee.fr/codes/eap2021/produit/2670263000/noteGenerale/v1	http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#type	http://rdf-vocabulary.ddialliance.org/xkos#ExplanatoryNote
http://id.insee.fr/codes/eap2021/produit/2670263000/noteGenerale/v1	http://purl.org/pav/version	1
http://id.insee.fr/codes/eap2021/produit/2670263000/noteGenerale/v1	http://rdf-vocabulary.ddialliance.org/xkos#plainText	Y compris les dispositifs pour le contrôle des masques ou des réticules utilisés dans la fabrication des dispositifs à semi-conducteur ou pour la mesure du niveau de contamination par particules de la surface des disques à semi-conducteur
http://id.insee.fr/codes/eap2021/produit/2670263000/noteGenerale/v1	http://purl.org/dc/terms/language	fr
http://id.insee.fr/codes/eap2021/produit/2670263000/noteGenerale/v1	http://eurovoc.europa.eu/schema#noteLiteral	<div xmlns="http://www.w3.org/1999/xhtml"><p>Y compris les dispositifs pour le contrôle des masques ou des réticules utilisés dans la fabrication des dispositifs à semi-conducteur ou pour la mesure du niveau de contamination par particules de la surface des disques à semi-conducteur</p></div>
http://id.insee.fr/codes/eap2021/produit/2670263000/noteGenerale/v1	http://rdf.insee.fr/def/base#validFrom	2021-01-01T00:00:00.000+01:00
http://id.insee.fr/codes/eap2021/produit/2670263000	http://www.w3.org/2004/02/skos/core#definition	http://id.insee.fr/codes/eap2021/produit/2670263000/noteGenerale/v1